太陽光モジュールにおけるバイパスダイオードの欠落や接続不良は、潜在的な火災リスクとなる。 標準的な工場検査や現場検査では、これらの欠陥を検出できないことが多い。 報告書は、エレクトロルミネッセンス画像や遮光下でのサーモグラフィ検査などの標的型診断を推奨している。